光澤和平滑度都是物體的表麵特性，二者均取決於物體表麵的微觀結構。早在1919年，物理學家Chinmayanandam就曾研究物體表麵鏡麵反射光量與表麵粗糙度之間的關係。而後，又有許多學者相繼在這方麵開展更為廣泛的研究。他們得到一個相同的結論：當波長為λ的光以入射角θ照射物體表麵時，滄州歐譜若紙麵用輪廓峰穀高度分布標準差表示的物體粗糙度（又稱為均方根粗糙度）為σ，入射光強度為I，則物體表麵鏡麵反射光度的強度I′可由下式得到：

I′＝Iexp[-(4πσ·cosσ/λ)]

Cate等人具體研究了紙張的光澤與均方根粗糙度之間的關係，並且指出：用外觀輪廓法和光學法所測平均粗糙度的平方σ2與TAPPI光澤之間存在著良好的相關性（相關係數為0．91），如圖4－28所示。從圖4-28可見，σ2值越大（即表麵粗糙度越大），TAPPI光澤越小其它方法測量平滑度時，由於都是在一定壓力下進行測量，因而測得的數值與光澤之間的相關性很差。表4－6為三菱製紙株式會社的桂撤所做相關性研究結果。表中數值為75°角測光澤值與幾種平滑度測定方法所測值之間的相關係數。從表上可見，它們之間的相關性很差。這反映光澤僅與物體表麵的表觀平滑度相關，光澤度儀而與一般在壓力狀態下測得的平滑度之間沒有多大相關。